双轴照相的模拟

摘要：

为了提高FTO(French Test Object) 客体重建的精度,提出了双轴不同照相布局的思想,并进行了数值实验。研究表明:两轴照相散射干扰很严重,且主要来于前保护器件,针对此设计了使用铅屏蔽块的新的照相布局。两轴照相信息的联合,重建得到了比单轴大角准直系统误差更小的结果。

关键词： 双轴照相 准直角 散射干扰 铅屏蔽块 照相布局 FTO

作者: 刘进 章林文 刘军 施将君

作者单位: 中国工程物理研究院流体物理研究所 绵阳919-105信箱 621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会高能电子学专业委员会第五届学术交流会

会议地点: 银川

会议语种:中文

页码: 133-136

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）