嵌入式Flash存储器内建自测试控制器的设计

摘要：

本研究针对Flash存储器的特点,分析了存储器的工作机制、故障特征和Flash存储器特有的测试算法。在此基础上,提出了一种针对嵌入式FIash存储器的内建自测试控制器的结构。该结构采用指令格式,可以减少指令数据量。仿真结果表明,该内建自测试控制器可以有效地测试Flash存储器的故障。

关键词： 信息存储器 内建测试器 测试控制器

作者: 雷加 晏筱薇 周勇

作者单位: 桂林电子科技大学电子工程系 桂林 541004

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届全国虚拟仪器学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 135-138

在线出版日期: 2007-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）