序进应力下高频硅NPN晶体管3DG130可靠性评价及失效分析

摘要：

通过序进应力加速寿命试验,对某重点工程所采用的高频硅NPN晶体管3DG130进行可靠性评价,进行170～320℃温度范围內序进应力加速寿命试验,得到样品在不同温度下电流增益、饱和压降等电参数的退化规律。根据失效敏感参数退化规律分析主要失效机理。

关键词： 失效机理 加速寿命试验 NPN 晶体管 序进应力

作者: 刘鹏飞 郭春生 李秀宇 李志国

作者单位: 北京工业大 学电子信息与控制工程学院可靠性研究室 北京 100022

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十二届全国青年学术年会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 300-302

在线出版日期: 2006-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）