一种快速确定微电子器件寿命分布及失效率的新方法

摘要：

提出一种快速确定微电子器件失效率及寿命分布的新方法,在计算失效激活能并外推寿命的基础上,确定微电子器件的寿命分布,并据此建立了相应的计算失效率模型。

关键词： 失效敏感参数 激活能 失效率 寿命分布 微电子器件

作者: 李秀宇 郭春生 刘鹏飞 杨玥 李志国

作者单位: 北京工业大学电子信息与控制工程学院 北京 100022

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十二届全国青年学术年会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 222-224

在线出版日期: 2006-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）