磁性薄膜电阻率自动测量虚拟仪器系统

摘要：

磁性薄膜电阻率较小,需要精确测量。双电测四探针法测量电阻率比传统四探针法更精确,但是步骤繁复不方便实现自动化测量。虚拟仪器技术将测量设备和计算机结合,测量方式选择性大,数据处理方便。本文介绍应用虚拟仪器技术实现双电测法测量磁性薄膜电阻率的过程。

关键词： 磁性薄膜 电阻率 双电测法 虚拟仪器 自动测量

作者: 江建军 王一楠

作者单位: 华中科技大学电子科学与技术系,武汉 430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第18届计算机技术与应用学术会议(CACIS)

会议地点: 浙江宁波

会议语种:中文

页码: 782-787

在线出版日期: 2007-08-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）