基于IEEE1445标准的电路板自动测试结构设计与实现

摘要：

由于各种电路板自动测试系统(ATS)所具有的仪器模块、TPS开发环境、测试接口不完成一样,造成了TPs对ATS的依赖性,引起在它们之上所开发的TPS不兼容的问题,为了解决此问题及造成的测试资源浪费,基于IEEE1445标准的思想,对原有的电路板测试结构进行了拓展,提出了一种新的自动测试结构。实际应用表明,该结构通用性较强,在很大程度上提高了TPS的有效性,扩展了ATE的使用范围,提高了工作效率,为电路板测试诊断技术的发展提供了一定的参考价值。

关键词： IEEE1445标准 电路板测试 自动测试结构 ATE 自动测试系统

作者: 宁小玲 孙臣良 程江涛 秦亮

作者单位: 海军航空工程学院 烟台 264001 海军航空工程学院青岛分院 青岛 266041

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 241-244

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）