ASIC设计中的DFT技术

摘要：

本文通过对DFT(Design-For-Test)可测性技术的研究,详细介绍了可测试技术的基本概念,以及内部扫描设计、内建自测试(BIST)设计和边界扫描设计的具体实现过程.并给出在ASIC(ApplicationSpecific Integrated Circuit)设计中,进行DFT设计的一般流程.最后对DFT设计所取得的成效作了简要的描述.

关键词： ASIC设计 可测性设计 DFT技术 SCAN 内建自测试 边界扫描

作者: 刘洪锦 伏生荣 姚荣

作者单位: 江南计算技术研究所 无锡 214083

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届计算机工程与工艺全国学术年会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 322-325

在线出版日期: 2006-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）