結合相移術與波長位移術之偏光儀
本论文提出一套偏光仪,它包含一波长可调雷射、一穿透轴在45度的偏极板、一慢轴(或快轴)在0度的受测波板、一慢轴在45度的四分之一波板、一可转动的分析板、及一个光感测器,雷射光依序经过偏极板、受测波板、四分之一波板、及分析板後其光强信号被光感测器检测出来。利用这套偏光仪,我们可结合相移与波长位移技术来检测波板之光学性质。当波长在λ时,旋转分析板以进行四步相移术;当波长在λ+Δλ时,再旋转分析板以进行四步相移术。透过波长位移前後的这两次相移术,受测波板的光程差(Δn·d)及光轴方向便可求得。实验上,我们取一光学性质之已知波板来进行量测以验证本文构想之正确及可行性。
相移术 波长位移术 偏光仪 受测波板 波长可调雷射 光学性质
張家豪 林世聰
國立台北科技大學光電工程系
国内会议
台北
中文
137-141
2007-01-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）