高效的ALU测试向量产生策略

摘要：

内建自测试是集成电路测试的一种重要方法,而测试向量产生策略是内建自测试最为关键的问题。文章研究了一种高效的算术逻辑部件测试向量产生策略。这种测试向量产生策略只需要较少的测试向量,就可以对所设计的算术逻辑部件实现100％的故障覆盖,具有很高的效率和较低的代价。

关键词： 内建自测试 单元故障模型 测试向量产生 算术逻辑部件 集成电路测试

作者: 孙岩 蒋江 张民选

作者单位: 国防科技大学计算机学院重点实验室 长沙 410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届计算机工程与工艺全国学术年会

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 294-297

在线出版日期: 2007-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）