校正器在密封元器件差压式检漏方法中的应用技术

摘要：

本文简述了密封元器件差压式检漏的工作原理,并着重介绍了使用”漏率与压力差关系曲线图”判定密封元器件漏率的方法,以及使用”校正器法”准确、方便绘制”漏率与压力差关系曲线图”的技术及程序。

关键词： 密封元器件检漏 差压式检漏 漏率 压力差 校正器

作者: 陈乃克 杨超 吴孝俭

作者单位: 博益(天津)气动技术研究所 首都航天机械公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国质谱分析和检漏会议、第九届全国真空计量测试会

会议地点: 甘肃敦煌

会议语种:中文

页码: 78-83

在线出版日期: 2007-09-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）