孔径合成式辐射成像系统中的数字相关技术研究

摘要：

本文研究孔径合成式辐射成像系统中的低阶量化数字相关技术。定量分析了2阶和3阶两种低阶量化结构的性能。通过计算机仿真分别得到应用两种低阶量化结构的成像系统的成像结果，并将其与无穷阶量化结构的成像结果进行了比较。

关键词： 合成孔径成像 辐射成像 计算机仿真 成像结果

作者: 吴华明 万国龙 苗俊刚

作者单位: 北京航空航天大学 电子信息工程学院,北京 100083

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第一届嵌入式技术联合学术会议

会议地点: 乌鲁木齐

会议语种:中文

页码: 146-148

在线出版日期: 2006-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）