中频磁控溅射沉积AlNx薄膜原子力形貌
在不同的氮气比例下,固定其他的放电条件,采用中频磁控测射沉积技术在常温下沉积AlNx薄膜.通过原子力显微镜研究了氮气比例对AlNx薄膜形貌和薄膜表面均方根粗糙度的影响.
磁控溅射沉积 氮化铝薄膜 表面粗糙度
牟宗信 王振伟 刘升光 赵华玉
大连理工大学三束材料改性国家重点实验室
国内会议
北京
中文
378-380
2007-06-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
磁控溅射沉积 氮化铝薄膜 表面粗糙度
牟宗信 王振伟 刘升光 赵华玉
大连理工大学三束材料改性国家重点实验室
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2007-06-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)