红外焦平面失效现象仿真研究

摘要：

在性能较差的红外焦平面器件中,其背景图像经常出现一些现象,比如”黑线”、”锯齿”、”滴落圆”等,其原因可能是红外焦平面器件有缺陷或其读出电路存在问题。 本文针对红外焦平面可能出现的各种缺陷,将其等效为失效性模型,用EDA软件分别对采用DI和CTIA两种读出结构的红外焦平面进行失效性等效模拟分析。通过对3×3和10×10规模的红外焦平面输出信号进行模拟,分析了背景图像中失效现象产生的原因。红外焦平面失效现象模拟分析得出的结果,为红外焦平面读出电路结构的改进提供了参考依据。

关键词： 红外探测器 焦平面失效 读出电路 电路分析 等效模拟

作者: 林加木 丁瑞军

作者单位: 中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;中国科学院研究生院,北京,100039 中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届全国先进焦平面技术研讨会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 1005-1009

在线出版日期: 2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）