商用现货器件和软件容错技术在低辐射环境的应用

摘要：

近年来我国的航天事业阔步前进，空间任务越来越复杂，航天电子系统对高性能的需求日益增强。抗辐射加固器件价格较高，性能远落后于现有商用器件，而且比较难获得，因此商用现货(COTS)器件加软件容错技术正在低辐射环境中得到应用。首先概略介绍了辐射对电子器件的影响，然后详细介绍了美国的ARGOS和REE项目中使用的用软件实现的抗辐射容错技术。

关键词： 航天电子系统 抗辐射加固 商用现货 软件容错 抗辐射环境

作者: 王连国

作者单位: 中国科学院空间科学与应用研究中心 北京 100080

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国空间科学学会空间探测专业委员会第二十次学术会议

会议地点: 湖南张家界

会议语种:中文

页码: 530-535

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）