钼同位素丰度的负热电离质谱测量方法研究

摘要：

本文介绍了钼同位素丰度的负热电离质谱(NTIMS)测量方法。该方法采用双铼带结构，以Sr(NO3)2作发射剂，并优化了涂样方法，使得1ug钼产生了100mv以上的稳定MoO3-离子流。测量数据扣除了氧同位素的影响。该方法避免了钼的正离子质谱测量法的缺点，使得涂样量更小(＜2ugMo)，测量时间更短(10-15分)，精度更高(RSD在0.02％-0.17％之间)，数据更可靠(与标准值的相对误差在0.002％-0.2％之间)。

关键词： 钼 同位素丰度比 负热电离质谱 氧同位素

作者: 梁帮宏 邓辉 张舸 杨彬

作者单位: 中国核动力研究设计院,成都,610005

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国核学会核材料分会2007年度学术交流会

会议地点: 四川江油

会议语种:中文

页码: 234-239

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）