单运放辐照后的退火研究

摘要：

F002C和LM741两种单运放经过不同剂量X射线辐照后，F002C一部分采用电流退火方式，一部分采用高温退火方式，LM741采用高温退火方式，经过退火后器件基本恢复辐照前的状态，再经过Y射线辐照，证实了退火对器件的辐照特性基本无影响。

关键词： 高温退火方式 辐照 运算放大电路

作者: 牟维兵

作者单位: 中物院电子工程研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会2007年学术年会

会议地点: 四川绵阳

会议语种:中文

页码: 416-419

在线出版日期: 2007-06-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）