<,DDQ>的检测方法

摘要：

该文简要说明I<,DDQ>测试所涉及的测试向量集、 高速监测电路及检测方法等三个方面。以实验数据为基础说明从CMOS数字IC成品中筛选出高可靠性、低功耗IC是可能的。文章着重说明了I<,DDQ>限值I<,DDQL>的确定方法及I<,DDQ>的检测步骤。该文对CMOS数字IC生产单位及用户单位有一定意义。

关键词： 电流测试 桥接缺陷 半导体数字集成电路

作者: 戴昌培

作者单位: 北京自动测试技术研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 83～90

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）