7.7嵌入式存储器的内建自测试原理与实现

摘要：

随着片上系统芯片(SoC)中嵌入越来越多的存储器设计,存储器在片上系统所占的芯片面积比例越来越大。快速而高效的存储器测试方法变得越来越重要.交中分析介绍了嵌入式存储器的内建自测试原理,并仿真实现了存储器内建自测试的一种典型设计结构。

关键词： 嵌入式存储器核 内建自测试 March算法 片上系统

作者: 王艳 张晓林

作者单位: 北京航空航天大学,电子信息工程学院,北京,100083

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第十一届信号与信息处理、第五届DSP应用技术联合学术会议

会议地点: 南昌

会议语种:中文

页码: 236-239

在线出版日期: 2007-10-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）