基于验证综合的芯片设计验证方法

摘要：

本文介绍了一种基于验证综合的测试验证方法的原理和实现,提出一种整合整个设计流程中所有验证环节的技术,将可以保持对整个流程中验证的一致性。该技术具有很好的可移植性,类似项目的验证开发,只需要对激励部分做一些改动,就可以很方便在新项目中得到应用,大大降低验证开发工作量,提高了效率,在缩减开发周期的同时保证了测试验证的质量。

关键词： 测试验证 芯片设计 可移植性

作者: 徐奕 马骁 刘康

作者单位: 国腾微电子有限公司,成都,611731

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会半导体与集成技术专委会2006年度学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 279-283

在线出版日期: 2006-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）