一种基于带隙比较器的上电复位和欠压检测电路

摘要：

随着超大规模集成电路技术的发展,系统要求上电复位电路拥有更多的功能和更佳的性能。本文通过分析常规上电复位电路存在的问题,提出了一种基于带隙比较器的上电复位和欠压检测电路。通过对电路结构的分析和仿真,证明这种电路在性能和可靠性方面均远远优于常规上电复位电路。这种电路已应用于一款8位通用MCU芯片中,在CSMC 0.5μm CMOS工艺上流片验证通过.

关键词： CMOS工艺 上电复位 欠压检测 带隙比较器

作者: 王灿 周小军 刘文峰 李平

作者单位: 电子科技大学VLSI设计中心,成都,610054

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会半导体与集成技术专委会2006年度学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 97-100

在线出版日期: 2006-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）