工业射线DR/ICT一体化检测试验系统(一)系统硬件部分

摘要：

研制了具有多探测器、多射线源切换功能的射线DR/ICT一体化检测试验系统,覆盖了国际上大力发展的射线数字成像检测技术。该试验系统的研制,形成了我国自主产权系列化射线数字成像产品研发的能力,为射线成像检测技术研究提供了条件。

关键词： 射线检测 探测器 数字成像 层析成像

作者: 丁克勤 梁丽红 傅健

作者单位: 中国特种设备检测研究中心,北京市朝阳区和平街西苑2号楼,100013 北京航空航天大学,北京市海淀区学院路37号,100083

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国无损检测新技术学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 110-113

在线出版日期: 2007-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）