基于软硬件协同测试的数字IC测试仪设计

摘要：

在集成电路设计过程中,测试往往是影响产品的重要环节。基于软硬件协同测试技术,本文设计了一款数字IC测试仪.介绍了测试仪的硬件结构及其工作原理,主要包括逻辑功能测试和直流参数测试等内容。讨论了系统的软件设计思想。该测试仪可以广泛用于大量数字IC芯片的测试。

关键词： 逻辑功能测试 直流参数测试 集成电路 数字测试仪

作者: 杜涛

作者单位: 电子科技大学微电子与固体电子学院,成都,610054

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会半导体与集成技术专委会第二届学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 261-264

在线出版日期: 2007-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）