基于介电频谱分析聚酰亚胺薄膜老化特征的研究
本文对纳米和非纳米聚酰亚胺薄膜进行了双极性脉冲电压下的老化,测试并分析了试样老化前后的介电频谱,结合试样的扫描电镜分析,研究了材料老化前后的微观分子结构形态和宏观介电性能之间的关系,得到如下结论：老化使得聚酰亚胺薄膜的偶极子弛豫损耗峰向高频移动.绝缘材料分子链断裂,形成小分子量的极性分子,取向极化更易建立.纳米无机物的加入,使偶极子取向带来的弛豫损耗大大减小,界面极化带来的介质损耗大大增加。
聚酰亚胺薄膜 绝缘老化 介电频谱 纳米薄膜 老化特征
何景彦 吴广宁 周凯 高波
西南交通大学电气工程学院,成都,610031
国内会议
上海
中文
136-139
2007-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）