交联聚乙烯电缆料杂质高速扫描形貌测量技术研究

摘要：

本文针对高压交联聚乙烯电缆绝缘料纯净度检测的问题,研制了高速扫描形貌测量系统。系统采用现场可编程门阵列(FPGA)芯片控制高速A/D采集CCD数据,根据动态阈值提取杂质数据并进行封装处理,然后通过USB2.0总线传输至上位机进行分析、记录和杂质形貌重建.实验表明,此系统测量实时准确,杂质形貌恢复完好。适用于交联聚乙烯电缆绝缘料的杂质检测。

关键词： 交联聚乙烯 杂质检测 数据处理 现场可编程门阵列 形貌测量

作者: 赵洪 刘艳 于效宇 岳振 丁倩

作者单位: 哈尔滨理工大学电气与电子工程学院,黑龙江省,哈尔滨市,150040 哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院,黑龙江省,哈尔滨市,150040

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国工程电介质学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 60-64

在线出版日期: 2007-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）