光热反射技术测量表面下微尺度热结构
采用周期半导体激光为加热源,连续半导体激光为探测光,光学显微镜物镜聚光,应用稳态的光热反射探测技术得到相应于表面温度响应的周期反射信号,建立一套5～10微米分辨率的实验室用扫描探针式表面下热结构测量系统。利用光刻的形式,制作了埋藏在金属表面下Si基体中的SiO2的图形,分别使用不同频率对其进行一维逐点扫描,在合适的频率下得到被埋藏物的信息,从而实现了微米量级简单结构复合试样的热结构测量。
光热反射技术 微尺度热结构 热结构测量
布文峰 唐大伟 郑兴华
中国科学院工程热物理研究所,北京,100080
国内会议
广州
中文
868-871
2007-11-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）