PLZT(7/40/60)纳米多层膜介电特性研究
经溶胶-凝胶法制备出PLZT(7/40/60)纳米多层膜,对不同温度、不同层数,不同Zr/Ti比的PLZT薄膜的介电性能用精密阻抗分析仪进行介电特性分析。结果表明:煅烧温度的提高、薄膜层数的增加、锆含量的增加等均对PLZT薄膜的相对介电常数和介电损耗均有影响。频率为1kHz,750℃和锆含量为0.45时,薄膜的相对介电常数和介电损耗都最高。
PLZT 纳米薄膜 介电性能 溶胶凝胶法 煅烧温度
余大书 焦永恒 宿杰
天津师范大学,物理与电子信息学院,天津,300074
国内会议
武汉
中文
658-661
2007-11-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)