8mm双通道综合孔径辐射计原理样机及成像实验

摘要：

提出了一个8mm的双通道综合孔径辐射计样机,实验证明了该样机可以演示稀疏阵列综合孔径辐射成像技术的概念,并可对该技术中的问题进行验证。推导了综合孔径辐射计在近场条件下的相位误差,并用理论值对实验结果进行了修正,证实该方法有效.

关键词： 综合孔径辐射计 毫米波辐射成像 近场成像 稀疏阵列

作者: 陈柯 郭伟 何方敏 桂良启 郎量

作者单位: 华中科技大学电子与信息工程系,武汉,430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年全国微波毫米波会议

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 1384-1387

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）