缺陷地结构在微带天线间互耦抑制中的运用
本文给出一种利用缺陷地(DGS)结构有效抑制微带天线阵元之间耦合的方法。将缺陷地结构用于微带天线阵的设计中,利用其频率带阻特性抑制天线单元间的耦合.为了证明这种方法的有效性,我们分析了在较厚的介电常数较大的基板上的两个微带天线单元的耦合.仿真和实验结果均证明在单元耦合比较显著的情况下,缺陷地结构的引入可以有效的减小天线单元间的耦合，从而可以抑制旁瓣电平,改善原有天线的性能。该结构在微带天线阵列单元互耦抑制中具有良好的应用前景。
微带天线阵列 互耦合 缺陷地结构 互耦抑制 频率带阻特性
江莉 肖绍球 王建朋 王秉中
电子科技大学物理电子学院应用物理研究所,中国成都,610054
国内会议
宁波
中文
334-337
2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）