互耦对四元微带天线阵性能影响的仿真与分析

摘要：

在微带天线阵的设计中,互耦效应是不可忽略的因素.通过IE3D软件分别在考虑互耦和不考虑互耦的情况下对四元微带天线阵进行了仿真和比较,研究了互耦对微带天线阵性能的影响,得出了结论,互耦使阵列方向图发生变化,空间辐射效率和增益降低等。为微带天线阵的设计提供了参考依据。

关键词： 微带天线阵 互耦效应 矩量法 方向图

作者: 王娜 梁薇 李莉

作者单位: 北京邮电大学,电信工程学院,北京,100876

会议类型: 国内会议

会议名称: 第17届全国电磁兼容学术会议

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 192-199

在线出版日期: 2007-07-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）