氢化物发生-原子荧光光谱法测定纯镍中的痕量碲

摘要：

建立了氢化物发生-原子荧光光谱法测定纯镍中的痕量碲的方法,荧光强度与硒浓度在0～40 μg·L-1范围内呈线性关系,相关系数为0.9993,检出限为0.17 μg·L-1.方法应用于纯镍中痕量碲的测定,精密度和准确度可满足实际测试工作的要求。

关键词： 氢化物发生 原子荧光光谱法 纯镍 痕量碲测定

作者: 谢绍金 杨春晟

作者单位: 北京航空材料研究院,北京市81号信箱19分箱,100095

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届全国试剂与应用技术交流会

会议地点: 乌鲁木齐

会议语种:中文

页码: 104-109

在线出版日期: 2007-08-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）