利用改进的微分进化算法进行头部电导率参数的求解

摘要：

作为一项功能成像技术，电阻抗成像(EIT)技术通过在目标体外注入一定的安全激励电流，测量目标表面的电位分布，来重构目标内部的阻抗分布信息.EIT是一个非常病态的的非线性逆问题.本文利用利用改进的微分进化算法来重建目标内部的电阻率分布.利用二维真实头模型进行了仿真实验.结果表明，利用改进的微分进化算法可得到了重建精度高的结果.与通常的微分进化算法相比，它具有操作更为简单、人为干预少的优点，且收敛速度大大加快.

关键词： 电阻抗成像 参数反演 微分进化算法 电导率

作者: 李颖 颜威利 沈雪勤 徐桂芝

作者单位: 河北工业大学,天津市,300130

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年电工理论与新技术学术年会

会议地点: 湖南张家界

会议语种:中文

页码: 146-149

在线出版日期: 2007-08-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）