CMOS探测器在射线检测中的应用
以CMOS探测器为记录介质的数字化射线检测技术，检测精度高，温度适应性好，结构适应性强.CMOS射线扫描探测器探测单元排成线阵列，需要在检测时进行相对扫描运动，逐线采集并拼成完整的透照投影图像.因此，进行了检测工装设计，完成探测器的固定、位置调节及实现与检测工件的相对运动.介绍了检测应用中的各步骤包含探测器配置与校准、合适透照方式选取、运动速度控制、检测参数优化、缺陷定量分析、图像存档管理等.应用结果表明经过工艺优化，CMOS探测器能够实现大多数产品零部件的射线检测.最后，分析了数字化射线检测应用效果及有必要进行研究的几个问题.
CMOS探测器 数字化射线检测 工艺优化 投影图像
孙朝明 李强 王增勇 李建文
中国工程物理研究院机械制造工艺研究所,绵阳,621900
国内会议
秦皇岛·北戴河
中文
420-422
2007-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）