基于离散粒子群算法的电路测试集最小化方法

摘要：

近年来，离散事件系统(DES)理论的应用为数模混合电路的测试提供了一种统一、有效的系统化方法，而求取电路的最小测试集一直是该研究领域的重点和难点.本文针对在基于DES理论的电路可测试性研究中测试集最小化问题的具体特点，分析并设计了基于离散粒子群算法的电路测试集最小化方法.该方法采用”速度-位置”模型，通过群体中粒子间的竞争与协作在解空间中进行优化搜索.实验结果验证了它的高效性与实用性，其性能明显优于GASA策略和混沌遗传算法.

关键词： 离散粒子群 最小测试集 数模混合电路 离散事件系统 电路测试集 遗传算法

作者: 汪涌 鲁昌华 姚成忠

作者单位: 合肥工业大学计算机与信息学院,合肥,230009

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国信息获取与处理学术会议

会议地点: 秦皇岛·北戴河

会议语种:中文

页码: 326-329

在线出版日期: 2007-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）