高IQI灵敏度的X-射线数字图像信息优化

摘要：

X射线数字检测的IQI(Image Quality Indicator)灵敏度一直无法达到传统胶片B级水平，严重制约着数字射线检测技术的应用.文中基于非晶硅面阵探测器，提出了建立信息优化数学模型的方法，对探元响应不一致性噪声、射线光子起伏噪声、射线散射三个制约因素分别运用基于基准图像的两点线性校正模型、光子累积叠加模型、射线滤波及屏蔽手段进行信息优化，减少它们对IQI的降低，使获得的图像信息最优，最终提高了检测质量，使20 mm内厚钢材料检测质量达到B级水平。

关键词： X-射线检测 IQI灵敏度 不一致性噪声 射线散射 非晶硅面阵探测器 两点线性校正模型 射线滤波

作者: 孔凡琴 李博

作者单位: 通用电气中国有限公司GE检测科技,上海,200233;山东大学控制科学与工程学院,山东,济南,250061 通用电气中国有限公司GE检测科技,上海,200233

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007南昌无损检测国际会议——无损检测技术国际研讨会暨无损检测高等教育发展论坛、电磁检测学术交流会

会议地点: 南昌

会议语种:中文

页码: 55-58

在线出版日期: 2007-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）