带电粒子致细胞失活的理论模型

摘要：

本文介绍了经辐射损伤后细胞失活或存活的理论模型及相关问题的一些研究工作，重点考虑了径迹结构和能量沉积特点的新的细胞失活模型。在径迹结构模拟的基础上,计算并分析了DNA损伤谱,同时把径迹结构得到的损伤谱与细胞存活联系起来,在分子水平上探讨了细胞失活或存活的机制。

关键词： 辐射生物学 带电粒子 细胞失活 基因损伤

作者: 曹天光 马云志 孔福全 杨明建 卓益忠

作者单位: 中国原子能科学研究院,北京,102413 北京大学医学物理和工程北京市重点实验室,肿瘤物理诊疗中心,北京,100871 中国原子能科学研究院,北京,102413;河北工业大学理学院,天津,300130

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届生物物理与核物理交叉学科前沿研讨会

会议地点: 乌鲁木齐

会议语种:中文

页码: 94-97

在线出版日期: 2006-08-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）