铁电微阵列的AFM图像及电滞回线测定
铁电阵列在红外探测器、非挥发性存储器中具有重要应用.随着大面积、微格点铁电阵列制备技术的发展,评价亚微米、甚至纳米级微小格点的铁电特性对于铁电器件的设计和制造具有重要意义.本研究将铁电仪和扫描探针显微镜相连,在扫描探针显微镜的AFM模式下,采用带有导电涂层的探针,通过扫描获得铁电阵列的三维像.据此图像,可以把探针定位于特定的微小格点上,由铁电仪通过AFM探针提供电压,并经探针悬臂梁将测试信号反馈给铁电仪,在无顶电极的情况下就可以获得微小铁电格点的电滞回线.
铁电薄膜 电滞回线 原子力显微镜 铁电分析仪
赵高扬 张卫华 邓小翠 徐国敏 赵卫
西安理工大学材料科学与工程学院,陕西,西安,710048 中国科学院西安精密光学机械研究所,陕西,西安,710068
国内会议
大连
中文
337-340
2006-08-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）