铀样品丰度分析技术研究
用高纯锗半导体γ探测器测量了不同质量的球形高浓铀和贫化铀样品以及两者相组合模型.采用PCFRAM分析软件对测量数据进行了铀丰度分析,研究铀丰度的分析结果与测量时间、不同屏蔽厚度、样品质量和样品的组合模型的关系.结果表明:在一定条件下,测量时间的长短直接影响到分析结果的可靠性;分析结果与铀样品外是否加屏蔽体无关,而是取决于测量能谱中γ射线计数的统计涨落.在保证高质量测量能谱的前提下,可以准确的分析出铀材料的丰度;在高浓铀和贫化铀材料同时存在时,无法区分样品的丰度.
铀丰度 γ探测器 测量能谱
向永春 郝樊华 章剑华 熊宗华 胡广春
中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川绵阳,621900
国内会议
贵州安顺
中文
55-58
2007-04-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）