用于测定238U活度的γ谱仪效率刻度方法中一个值得注意的误区
详实地揭示了在高分辨Geγ谱仪效率刻度方法及其样品分析应用中一个长期以来未为谱学工作者发觉和认识的误区.通过实验及物理数学推导方法,阐述了当选用92.6 keV特征γ射线分析天然样品中238U活度时,是外源性特征X射线干扰的存在及影响其变化的多因素不确定性导致了准确测定天然样品中238U活度的困难,并导致分析结果中含有难于预测的系统误差,故而建议摒弃该方法.注意到报告的误区在既往某些工作中遗留的影响,建议运用相关数据时应十分谨慎,如果可能,应设法重新测定.
系统误差 效率刻度 X射线 干扰辐射 γ谱仪
苏琼 刁立军 李贵群 程建平
清华大学工程物理系核技术研究所,北京,100084 中国原子能科学研究院,北京,102413
国内会议
贵州安顺
中文
1-11
2007-04-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）