会议专题

浓缩铀镀层的准确定量

针对实验研究中所用的转换靶(浓缩铀镀片),采用了背对背电离室、小立体角定量装置及大面积金硅面垒半导体探测器三种方式来准确定量其镀层质量厚度,并对结果进行了不确定度分析.

铀镀层 背对背电离室 定量装置 半导体探测器 质量厚度

林菊芳 王玫 温中伟 王大伦 刘荣 蒋励 鹿心鑫 朱通华 励义俊

中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川绵阳,621900

国内会议

2007年全国核仪器应用核探测技术核测量方法学术会议

贵州安顺

中文

35-38

2007-04-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)