极紫外光刻给光学技术带来的挑战
本文概述了极紫外光刻技术的发展,阐明了极紫外光刻技术的特点,说明了极紫外光刻的关键光学技术.极紫外光刻中光学元件的评价需要采用随空间波长变化的表面功率谱密度进行评价,分析了不同区域内表面误差对极紫外光刻系统性能的影响,给出了极紫外光刻对相应空间波长区域的技术要求和现在技术能够达到的水平.根据这些问题,重点说明了极紫外光刻如何将光学加工、检测和镀膜技术带到了原子尺度.最后建议我国能够抓紧时间,尽快启动相关研究,推动我国相关领域的发展.
极紫外光刻 光学技术 光学加工
王占山
同济大学精密光学工程技术研究所
国内会议
广州
中文
120-125
2006-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）