数模混合电路的BIST研究

摘要：

本文对国内外已提出的数模混合电路的BIST进行了有效的探讨,归纳总结,总结了他们各自的结构特点.并提出了一种基于功能测试的数模混合电路BIST结构.

关键词： 数模混合电路 BIST结构 功能测试

作者: 雷加 周虎

作者单位: 桂林电子科技大学,广西,桂林

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十六届全国测试与故障诊断技术研讨会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 202-205

在线出版日期: 2007-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）