重掺Al3+对ZnO薄膜光学性能的影响
本文利用射频磁控溅射方法,在Si基片和玻璃基片上制备Al3+掺杂浓度10%-40%的ZnO薄膜,并测试了薄膜的透射谱和光致发光谱.随着Al3+掺杂浓度的提高,ZnO薄膜的吸收边向短波长方向蓝移;当Al3+掺杂浓度达到20%以后,吸收边基本稳定在314nm左右;光致发光谱中,在355nm附近有很强的紫外发射,深能级发光峰的位置随着Al3+掺杂浓度的不同有所差异.
ZnO薄膜 光致发光谱 透射谱 射频磁控溅射
袁庆亮 李燕 李金丽 薛书文 韦敏 邓宏
电子科技大学微电子与固体电子学院,四川,成都,610054
国内会议
广西北海
中文
403-406
2006-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)