GaN基金属-半导体-金属探测器
在非故意掺杂的GaN外延层上制作了MSM结构的探测器.对暗电流进行了测试分析,发现在大电压下老化以后暗电流发生变化.光谱响应测量中发现带隙内的异常峰值响应现象.根据陷阱模型对它们做出了解释.
GaN外延 MSM结构 探测器 暗电流测试 光谱响应 淬灭 陷阱模型
刘文宝 赵德刚 刘宗顺 杨辉
中国科学院半导体研究所,光电子研究发展中心,北京,100083
国内会议
广西北海
中文
284-287
2006-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)