会议专题

GaN基金属-半导体-金属探测器

在非故意掺杂的GaN外延层上制作了MSM结构的探测器.对暗电流进行了测试分析,发现在大电压下老化以后暗电流发生变化.光谱响应测量中发现带隙内的异常峰值响应现象.根据陷阱模型对它们做出了解释.

GaN外延 MSM结构 探测器 暗电流测试 光谱响应 淬灭 陷阱模型

刘文宝 赵德刚 刘宗顺 杨辉

中国科学院半导体研究所,光电子研究发展中心,北京,100083

国内会议

第十四届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议

广西北海

中文

284-287

2006-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)