合成孔径雷达中点目标模拟的干涉现象分析

摘要：

用稀疏天线阵的观点解释了对均匀分布的点目标进行SAR成像模拟时幅度图像中出现的明暗条纹现象.在条纹的亮区,图像的信噪比和清晰度都很高,相位信息也得到很好保持;但在条纹的暗区,图像的幅度信息和相位信息都受到严重破坏.明暗条纹出现的位置和宽度与雷达观测角度、距离向分辨率、以及雷达工作频率等有关.用使均匀分布的点目标的高度有一个很小程度的随机分布的方法来破坏均匀分布,达到了消除明暗条纹的目的.消除明暗条纹后的雷达图像的清晰度和分辨率都比消除前有所降低,但却符合具有相应分辨率的雷达系统的成像效果.

关键词： 合成孔径雷达 点目标 成像模拟 干涉现象

作者: 江碧涛 张云华 姜景山

作者单位: 北京市遥感信息研究所,北京,100085;中国科学院研究生院,北京,100039 中国科学院空间科学与应用研究中心,北京,100039

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届微波遥感技术研讨会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 277-281

在线出版日期: 2006-12-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）