锰锌铁氧体裂纹的研究
本文采用TGA+DTA热分析法來研究由粘结剂和氧化反应所造成的铁氧体磁芯的裂纹.若裂纹是由粘结剂的非完全燃烧造成,那么在铁氧体磁芯的烧结过程中,可以降低400度以下的烧结速度來消除;但若裂紋是由高磁化量所致,可降低室温到700℃的升温速率以減弱氧化反应來消除裂紋的产生.
锰锌铁氧体 裂纹消除 粘结剂 高磁化量
许英华 李玉泉 阮海琼 周辅成 于作浩
越峰电子(昆山)有限公司,江苏昆山,215314 华中科技大学电子科学与技术系,湖北武汉,430074
国内会议
海口
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74-78
2007-04-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)