激光测距机光斑及其光轴平行性检测方法研究
在CCD检测激光光斑方法中,单、低频窄脉冲激光光斑的检测是一项很有工程实用价值的工作,检测的智能化程度和精度也比传统的烧蚀法等方法高.但是光斑图像的捕捉比较困难,采取同步取样的方法弥补势必会增加设计的成本和降低检测装置的通用性,因此采用上转换板将红外光转换为CCD可探测到的红光并对光斑进行延时,使普通CCD能够很容易地探测到单、低频窄脉冲激光的光斑,再经进一步处理后,即可检测到发射出的激光光斑的形心、质心、尺寸等参数,以及激光光轴与光学观瞄装置光轴的平行性。
上转换检测 激光光斑 光轴平行性检测 激光测距机 CCD检测
陈志斌 李义照 王呈阳 侯章亚
军械技术研究所,河北,石家庄,050000
国内会议
长春
中文
261-264
2007-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）