超高反射率测量系统的精密调试
在高反射率的精确测量中,光腔衰荡系统的调节直接影响反射率测量结果的精度.介绍了大口径超高反射率测量系统的结构及其工作原理,讨论了影响系统测量精度的因素,理论上估算的测量精度为9.1×10-6.在直腔下对该系统的性能进行了实验调试,根据衰荡波形的峰值包络线的变化趋势来调节衰荡腔的腔长;根据衰荡波形中相邻奇、偶次脉冲幅值的大小对比调节衰荡光腔的腔镜角度.实验测试结果表明,系统的测量不确定度优于7×10-6,最大测量误差为1.3 × 10-5,与理论上预计误差在数量级上一致。
光学测量 反射率 光腔衰荡系统 精密测量 测量不确定度
易亨瑜 胡晓阳 陈门雪
中国工程物理研究院,应用电子学研究所,四川,绵阳,621900
国内会议
长春
中文
258-260
2007-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）