HC-PCF与传统光纤的熔接技术

摘要：

本文实验研究利用普通光纤熔接机进行HC-PCF与SMF熔接技术。结果表明,利用普通光纤熔接机内置自动熔接模式,因熔接机成像系统无法识别HC-PCF,不能实现HC-PCF与SMF之间的熔接;而在手动模式下,通过优化放电时间与放电强度,可实现HC-PCF与SMF之间的熔接。在手动模式下,对放电时间和强度优化的实验结果表明,当放电强度约为单模光纤熔接放电强度的五分之一时,熔接效果较好,在该放电强度下,采用200ms放电时间,损耗值最低,实验获得的最低熔接损耗约为2dB,这包含了因模场失配和菲涅耳反射产生的0.9dB固有耦合损耗。

关键词： 光纤熔接机 光子晶体光纤 熔接损耗 放电强度

作者: 孙青 毛庆和 明海

作者单位: 中国科学院安徽光学精密机械研究所,安徽,合肥,230031;中国科学技术大学物理系,安徽,合肥,230026 中国科学院安徽光学精密机械研究所,安徽,合肥,230031 中国科学技术大学物理系,安徽,合肥,230026

会议类型: 国内会议

会议名称: 长三角光子科技创新论坛暨2006年安徽博士科技论坛

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 112-115

在线出版日期: 2006-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）