水稻籽粒不同部位重金属含量的测定

摘要：

近年来随着工业的快速发展,很多国家的农田土壤和农作物中的重金属元素含量成倍上升,其中Cd、Pb、Al等元素对作物生产和人类健康危害较大.有关水稻对重金属的吸收和在植株中分配的研究已有较多报道,但其在籽粒不同部位的积累情况则很少涉及.而且以往研究重金属在植株中的分配一般都是利用原子吸收光谱仪进行的,在消化提取过程中容易造成损失而使测定结果偏低.本文以成熟水稻籽粒为材料,采用环境扫描电子显微镜和X射线电子探针的方法,测定了水稻籽粒不同部位重金属的含量,并分析了其在水稻籽粒中的分配规律和相互关系。

关键词： 水稻籽粒 重金属元素 含量测定 扫描电子显微镜 X射线电子探针

作者: 陈义芳 周卫东 刘爱平 陈刚 孙国荣

作者单位: 扬州大学,测试中心,江苏,扬州,225009 扬州大学,生物科学与技术学院,江苏,扬州,225009 扬州大学,农学院,江苏,扬州,225009

会议类型: 国内会议

会议名称: 2006年全国电子显微学会议

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 253-254

在线出版日期: 2006-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）