基于嵌入式逻辑分析仪的FPGA测试

摘要：

在高度集成FPGA芯片测试中,其内部信号的实时获取与分析比较困难.对嵌入式逻辑分析仪SignalTapⅡ在FPGA测试中的应用进行了试验研究.将逻辑分析模块嵌入到FPGA信号发生器,构成一个逻辑分析仪.在FPGA芯片工作状态下,实现了内部信号的获取与分析.实验结果表明,应用SignalTap Ⅱ对FPGA进行测试,操作方便,实时性较高.

关键词： FPGA测试 嵌入式逻辑分析仪 SignalTapⅡ 信号发生器

作者: 李杨 孙玉国 金鑫

作者单位: 上海理工大学光学与电子信息工程学院,上海,200093

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届全国信息获取与处理学术会议

会议地点: 贵阳、沈阳

会议语种:中文

页码: 2372-2373

在线出版日期: 2006-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）